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　　因此，診斷電磁干擾源并指出輻射發(fā)射區(qū)域就顯得很迫切。在EMI輻射發(fā)射測(cè)試的故障檢修方面，有時(shí)可能想要設(shè)置足夠?qū)挼念l率范圍以使得輻射發(fā)射要的頻譜范圍以外的頻譜也包括在內(nèi)。用頻譜分析儀，EMC工程師就可以觀察到比用一臺(tái)典型的EMI測(cè)試接收機(jī)可觀察到的更寬的頻譜范圍。另一種常用技術(shù)是觀察特殊寬帶天線頻率范圍。包括所有校正因子在內(nèi)的頻 譜圖也同時(shí)被顯示在頻譜分析儀的CRT上，顯示的幅值單位與分析儀上的單位相一致，通常是dBm。這樣，測(cè)試人員可在CRT上監(jiān)測(cè)發(fā)射電平，一旦超過(guò)限值，就會(huì)被立刻發(fā)現(xiàn)。這在故障檢修中極其有用。這種特性使得人們?cè)谄帘伪粶y(cè)產(chǎn)品的同時(shí)觀察頻譜儀的屏蔽并可立刻獲得反饋信息。在快速進(jìn)行濾波、屏蔽和接地操作時(shí)同樣可做以上嘗試。頻譜分析儀的大保持波形存儲(chǔ)以及雙重跟蹤特性也可用于觀察操作前后的EMI電平的變化。

　　許多頻譜分析儀是便攜式的，可以方便地移入測(cè)試室內(nèi)以對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)觀察。測(cè)試人員可以用電場(chǎng)或磁場(chǎng)探頭探測(cè)被測(cè)設(shè)備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括如，箱體接縫，CRT前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開口部位等，探頭也可深入被測(cè)設(shè)備的箱體內(nèi)進(jìn)行探測(cè)。為了確切指出大輻射區(qū)域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線頭與一同軸線纜一起放入ＢＮＣ管式連接器內(nèi)就夠用了。此外，應(yīng)注意在探頭探測(cè)過(guò)程中頻譜分析儀上所顯示的近場(chǎng)測(cè)試值可能會(huì)較大，但這不一定就是遠(yuǎn)場(chǎng)輻射的主要原因。（例如將探頭放在振蕩部件的上方，頻譜儀上將顯示大量的振蕩頻率諧波。）但如果電路經(jīng)過(guò)屏蔽、濾波并且／或其導(dǎo)線很短，這將不成問(wèn)題。對(duì)于一個(gè)產(chǎn)品，我們所關(guān)注的包括以下幾個(gè)方面：導(dǎo)線是否較長(zhǎng)，帶狀線纜是否未經(jīng)屏蔽、是否存在接地回路、視頻電路是否未經(jīng)屏蔽、導(dǎo)線在輸出端是否未經(jīng)濾波或?qū)Ь€是否靠近箱體接縫。